Keysight X1149
Keysight X1149边界扫描分析仪是一款符合IEEE 1149.1标准测试访问端口（TAP）和边界扫描架构的印刷电路板测试仪。 它支持以下IEEE标准–IEEE 1149.1–IEEE 1149.6–IEEE 1581–IEEE 1687 Keysight x1149是一种多功能板测试解决方案，支持从研发到生产的电路设计分析和测试，具有易于使用的软件接口，用于开发、调试和生产运行。 工业和应用、计算和服务器板测试、网络通信板测试、航空航天和国防、汽车电子测试、工业电子测试、医疗设备测试、智能手机、存储设备（SSD，硬盘驱动器）关键功能验证边界扫描链拓扑设计内置DFT分析仪对边界扫描链拓扑设计进行评估。
| 类型 | GPIO、JTAG TAP |
| GPIO (输入/输出) | 5 output/drive pins, programmable voltages, using a common reference voltage) |
| 4 个输入/接收引脚, 具有完全可编程的接收机电压 | |
| JTAG 测试接入端口 (TAP) | 支持多达 4 个 TAP, 每个 TAP 都配有 TCK、TDI、TDO、TMS(可选的 IEEE 标准 1149.1 定义 TRST 信号) |
| TDI、TMS、TRST 可编程参考电压与 GP- 输出引脚使用通用 VREF | |
| TDO 可编程接收电压 | |
| TCK 具有独立的可编程参考电压 (VREF) 和斜率 | |
| 覆盖扩展技术 (CET) | CET ARM、CET 接收/发射、VTEP CLK/A/B/Hi/Lo+12 VDC 电源 |
| 每个 TAP 模块的固定接地位置 | TAP 模块引脚 1、3、5、7 |
要点
清晰明了的用户界面
存储器并行测试
电压监测
出色的信号质量
NPI 特性
专为测试分析而设计
测试点削减（TPR）报告
多链生成
测试开发
扩大对连接器和非边界扫描 IC 的测试范围
卓越的调试工具
可执行的引脚电平失效报告
系统内编程
应用
适用于 Netcom 和服务器产品的卓越测试范围
IEEE 1687 电路板测试解决方案
自动配置扫描路径链接器
